数字源表、脉冲源表、大电压脉冲源、窄脉冲源、高电流源、高电压源
3子卡插卡式源表、10子卡插卡式源表、 数据采集卡
功率器件静态参数测试系统、电流传感器测试系统
武汉普赛斯仪表有限公司提供二极管/三极管/场效应管/大功率激光器等多种半导体分立器件电性能测试解决方案,可进行工艺设计/材料评估/产品建模性能验证、可靠性分析、生产过程管控、晶圆验收测试/模具分类、封装测试、失效分析,为半导体分立器件的研发、生产和验证提供一站式解决方案。
武汉普赛斯仪表有限公司提供集成电路/微电子电性能测试解决方案,为集成电路制造过程的质量控制、性能验证提供数据支持。
武汉普赛斯仪表有限公司提供半导体材料的电特性表征解决方案,可测试半导体材料电性能参数,如电流I,电压V,或者电阻Ω的变化情况,为半导体材料的研究及分析提供可靠的数据支持。
武汉普赛斯仪表有限公司提供“五合一”传感器性能验证测试解决方案,一台仪器即可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器,波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统,支持四象限工作。
武汉普赛斯仪表有限公司教育和教学实验室集成工作台解决方案,可覆盖集成电路测试与验证、集成电路原理与应用、半导体器件物理、半导体集成电路、模拟电子技术基础实验、电路基础实验等专业课程,助力高校打造芯片及功率器件测试实践实训中心。
输出电压高达60V 脉冲电流最高可至10A
测量范围高至300V低至10pA
测量范围高至300V低至3pA
脉冲直流 简单易用
一台仪器可实现40通道的同时测量
脉冲响应快 电流输出强
输出电流大 脉冲边沿陡
直流最大60A输出 最小脉宽100μs
测量电流低至1nA
高电压 大电流 高精度 模块化
极快上升沿 KHz级带宽
多路设计 每路支持1-16只激光器的串联老化
基于普赛斯电子领先的光学与光电技术、微弱信号处理与抗干扰技术、高速数字信号处理、核心算法与系统集成等技术平台优势。
率先自主研发高精度台式数字源表(SMU) ,实现国产化替代及产业化。
帮助用户构建自定义的高效率、高精度、高安全性解决方案,致力于为客户提供最优质的产品和最贴心的服务。
近日,讯石光通讯的记者邀请普赛斯仪表公司副总经理兼研发技术负责人王承先生,进行了采访与充分交流,深入...
2023-06
数字源表也称为源测量单元(Source Measure Unit,SMU), 集数字万用表、电压源、电流源、电子负载以及脉冲发生器、波形发生器等功...
WUHAN, June 5 (Xinhua) -- Located in a nondescript building in Wuhan's East Lake high-tech development zone is a pr...
2023-05
针对碳化硅(SiC)或氮化镓(GaN)等功率半导体器件,如何精确表征功率器件高流/高压下的I-V曲线或其它静态特性,对器件的测试工...
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