大功率激光器老化系统_芯片老化测试_泵浦源老化系统_泵浦激光器特性测试—武汉普赛斯仪表有限公司-普赛斯仪表国产化高精度数字源表_IGBT测试系统_高电流脉冲电源_高电压源_电流传感器测试系统

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LDBI多路大功率激光器老化系统

LDBI多路大功率激光器老化系统

LDBI多路大功率激光器老化系统

普赛斯多路大功率激光器老化系统专为解决千瓦级大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块需要使用窄脉冲大电流测试和老化、芯片发热严重等问题而创新开发推出一套通用性好、大功率、循环水冷的老化测试系统。产品具有大电流窄脉冲恒流特性好、电流稳定、抗干扰能力强，并具有防过冲、防反冲、抗浪涌的稳压及恒流的双重保护电路等功能，为大功率半导体激光器芯片及泵浦激光器模块的老化测试提供了一个完整的解决方案。

产品特点

● 单抽屉最多支持16路，最多8抽屉

● 各通道互相独立

● 电流回读，同步自动测量电压、光功率等数据

● 加热膜加热，温控范围室温~125℃

● 电源抗浪涌设计

● 收光装置水冷

● 绝对精度±1℃，不同 DUT温度均匀性±2℃

● 老化数据自动记录与数据导出

产品选型

项目	工作模式	脉冲宽度	脉冲频率	电压测量	电压测量通道数	光电流检测	光电流检测通道数
技术指标	CW及QCW	最小100μs，最大3ms	0~10kHz，步进0.1Hz	0-100V，0.1%FS±80mV	16通道	0~10mA 量程，0.5%±60μW	1路，可支持16路分时复用
		步进1μs
		最大占空比3%

*以上规格如有更新，恕不另行通知。

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