台式仪表

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直流源表、脉冲源表、窄脉冲源、
大电流脉冲源、高电流源、高电压源、
大功率激光器测试电源
插卡式仪表

插卡式仪表

3子卡插卡式源表、10子卡插卡式源表、
数据采集卡、脉冲恒压源
测试系统

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功率器件静态参数测试系统、
电流传感器测试系统、
多路大功率激光器老化系统

解决方案

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分立器件

分立器件

武汉普赛斯仪表有限公司提供二极管/三极管/场效应管/大功率激光器等多种半导体分立器件电性能测试解决方案，可进行工艺设计/材料评估/产品建模性能验证、可靠性分析、生产过程管控、晶圆验收测试/模具分类、封装测试、失效分析，为半导体分立器件的研发、生产和验证提供一站式解决方案。

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集成电路

集成电路

武汉普赛斯仪表有限公司提供集成电路/微电子电性能测试解决方案，为集成电路制造过程的质量控制、性能验证提供数据支持。

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材料研究

材料研究

武汉普赛斯仪表有限公司提供半导体材料的电特性表征解决方案，可测试半导体材料电性能参数，如电流I，电压V，或者电阻Ω的变化情况，为半导体材料的研究及分析提供可靠的数据支持。

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传感器

传感器

武汉普赛斯仪表有限公司提供“五合一”传感器性能验证测试解决方案，一台仪器即可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器,波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统,支持四象限工作。

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微电子教学

微电子教学

武汉普赛斯仪表有限公司教育和教学实验室集成工作台解决方案，可覆盖集成电路测试与验证、集成电路原理与应用、半导体器件物理、半导体集成电路、模拟电子技术基础实验、电路基础实验等专业课程，助力高校打造芯片及功率器件测试实践实训中心。

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我们的优势

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掌握核心半导体电性能测试核心技术

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基于普赛斯电子领先的光学与光电技术、微弱信号处理与抗干扰技术、高速数字信号处理、核心算法与系统集成等技术平台优势。

自主研发及国产化替代实力

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率先自主研发高精度台式数字源表(SMU) ，实现国产化替代及产业化。

完善优质的服务体系

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帮助用户构建自定义的高效率、高精度、高安全性解决方案，致力于为客户提供最优质的产品和最贴心的服务。

新闻动态

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聚焦功率半导体测试 | 普赛斯仪表多款测试新品亮相中国光谷九峰山论坛

19/2024-04

聚焦功率半导体测试 | 普赛斯仪表多款测试新品亮相中国光谷九峰山论坛

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2024-04

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APD雪崩光电二极管是一种高性能光电探测器，它是一种PN结型光电二极管，具有高增益、高灵敏度和快速响应等特点。广泛应用于光电检...

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2024-03

纳米材料典型应用及电性能测试解决方案

前言纳米材料是指在三维空间中至少有一维处于纳米尺度范围（1-100nm）或由该尺度范围作为基本结构单元构成的材料，由于其本身特有...
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